时间:2024年3月21日
地点:上海新国际博览中心 W4馆一楼M6会议室
费用:免费
主办单位:
中国光学学会光学测试专业委员会
慕尼黑博览集团
承办单位:
南京理工大学
先进固体激光工信部重点实验室
慕尼黑展览(上海)有限公司
大会主席:
沈华 教授,南京理工大学
韩冰 研究员,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
谈宜东 教授,清华大学
主题:
微纳结构的光学精密检测技术
论坛日程:
日期 |
演讲主题 |
演讲嘉宾 |
09:00-10:00 |
注册签到 |
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10:00-10:25 |
微结构特征参数的光学显微无损测量方法 |
袁群,南京理工大学,教授 |
10:25-10:50 |
“非典型”光学相位成像及其在工业精密量测中的运用 |
朱金龙,华中科技大学,教授 |
10:50-11:15 |
微纳米薄膜光谱测试技术开发与应用研究 |
胡春光,天津大学,教授/精密仪器与光电子工程学院副院长 |
11:15-11:40 |
面向晶圆微纳制造的三维检测仪器方案介绍 |
万新军,苏州瑞霏光电科技有限公司,总经理 |
11:40-12:05 |
微型刀具光学对刀检刀技术研究 |
于占江,长春理工大学 跨尺度微纳制造教育部重点实验室,副研究员 |
12:05-14:00 |
午餐 |
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14:00-14:25 |
高分辨成像穆勒矩阵椭偏仪及其纳米测量应用 |
谷洪刚,华中科技大学,教授 |
14:25-14:50 |
基于新型多维信息感知微纳结构的红外探测技术 |
熊英,国防科技大学,博士 |
14:50-15:15 |
基于部分相干光数字全息的晶圆结构检测 |
孟浩然,中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,研究员 |
15:15-15:40 |
超精密光学面形干涉检测技术现状、发展趋势和挑战 |
侯溪,中国科学院光电技术研究所,研究员 |
15:40-16:05 |
基于白光干涉的微纳表面形貌测量 |
苏榕,中国科学院上海光学精密机械研究所,研究员 |
注:会议议程以当天通告为准